質問と回答は各講義題目ごとに分けてあります。
| 月 日 | 講 義 題 目 | 講 師 |
| １日目 | 表面・界面分析概論 | 野副 尚一（アルバック・ファイ） |
| 走査プローブ顕微鏡：STM | 重川 秀実（筑波大） | |
| 走査プローブ顕微鏡：AFM | 藤井 政俊（島根大） | |
| 透過電子顕微鏡（TEM／AEM) | 保田 英洋（神戸大） | |
| 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM／EPMA） | 林 広司（島津） | |
| ２日目 | 試料作成の基礎 ：イオンビームを用いた新しい方法 | 小倉一道（日本電子） |
| 電子線回折法（RHEED／LEED) | 堀尾 吉巳（大同大工） | |
| X線構造解析法 | 稲葉 克彦（リガク） | |
| 赤外分光法、ラマン分光法 | 北島 正弘 （物材機構） | |
| イオン散乱分光法 | 笹川 薫（コベルコ科研） | |
| ３日目 | 測定データ取り扱いの基礎 | 太田 英二（慶応大） |
| オージェ電子分光法（AES) | 大岩 烈（アルバック・ファイ） | |
| X線光電子分光法（XPS) | 林 泰夫（旭硝子） | |
| 二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS) | 片岡 祐治（富士通研） | |
| 二次イオン質量分析法（スタティックSIMS) | 加連 明也（東レリサーチ） |