質問と回答は各講義題目ごとに分けてあります。
| 月 日 | 講 義 題 目 | 講 師 |
| １日目 | 表面・界面分析概論 | 副島 啓義（島津総研） |
| 赤外分光法、ラマン分光法 | 吉川 正信（東レリサーチ） | |
| 薄膜X線回折法 | 屋代 恒（リガク） | |
| 走査電子顕微鏡、 電子プローブマイクロアナライザ（SEM／EPMA） |
林 広司（島津総合分析試験センター） | |
| 走査プローブ顕微鏡の基礎と応用 | 森田 清三（大阪大） | |
| ２日目 | 表面分析装置の基礎、オージェ電子分光法（AES) | 大岩 烈（アルバック・ファイ） |
| X線光電子分光法（XPS) | 薄木 智亮（住金テクノ） | |
| 二次イオン質量分析法（D-SIMS、S-SIMS) | 加連 明也（東レリサーチ） | |
| イオン散乱分析法 | 梅澤 憲司（大阪府立大） | |
| 透過電子顕微鏡(TEM/AEM) | 保田 英洋（神戸大） | |
| 放射光を用いた最新の薄膜・界面分析技術 | 大門 寛（奈良先端大） |