日本表面科学会 主催（2003年春季）
協 賛 日本化学会， 日本物理学会， 応用物理学会，日本トライボロジー学会，日本金属学会，（交渉中）電子情報通信学会， 日本電子顕微鏡学会， 電気化学会， 表面技術協会， 粉体工学会，日本材料学会， 電気学会， 日本材料科学会， 日本機械学会， 日本セラミックス協会，日本真空協会，高分子学会，日本油化学会，日本分析化学会，軽金属学会，化学工学会，日本質量分析学会，触媒学会，粉体粉末冶金協会，日本分光学会
表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、表面・界面分析を実際に行う場合に出会うさまざまな問題や疑問に思っている問題を参加者とともに討論する総合討論の時間を設けました。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。
第 35 回 表面科学基礎講座 2003年7月2日から7月4日 プログラム
7月2日（水）
09:30～10:50 表面・界面分析概論 一村 信吾（産総研）
11:00～12:00 走査プローブ顕微鏡（SPM）の基礎 野副 尚一（産総研）
13:00～14:00 走査プローブ顕微鏡（SPM）の応用 藤井 政俊（都立大）
14:10～15:20 透過電子顕微鏡（TEM/AEM） 板東 義雄（物材機構）
15:30～16:40 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA） 林 広司（島津）
16:40～17:00 総合討論 各講師
7月3日（木）
09:30～10:50 振動分光法(IR、ラマン) 北島 正弘（物材機構）
11:00～12:20 電子線回折法(RHEED/LEED) 堀尾 吉巳（大同工大）
13:30～14:30 Ｘ線構造解析法(XRD/XAFS) 中井 泉（東京理科大）
14:40～16:00 イオン散乱分光法 越川 孝範（大阪電通大）
16:00～16:30 総合討論 各講師
7月4日（金）
09:30～10:30 表面分析装置の基礎 境 悠治（日本電子）
10:40～12:10 オージェ電子分光法(AES) 大岩 烈（ｱﾙﾊﾞｯｸ・ﾌｧｲ）
13:10～14:40 Ｘ線光電子分光法(XPS) 林 泰夫（旭硝子）
14:50～16:20 二次イオン質量分析法(SIMS) 工藤 正博（成蹊大）
16:20～16:50 総合討論 各講師
会場
総評会館２Ｆ 東京都千代田区神田駿河台３-２（TEL 03-3253-1771）
ＪＲ「御茶ノ水」駅下車、または、地下鉄千代田線「新御茶ノ水」駅下車Ｂ３出口前
参加定員 ２００名（定員に達し次第〆切ります）
受講料（テキスト代、消費税を含む）
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申込先
〒113-0033 東京都文京区本郷 2-40-13 本郷コーポレイション402
日本表面科学会第35回表面科学基礎講座係
TEL.03-3812-0266 FAX.03-3812-2897 Ｅ-mail: shomu@sssj.org
申込締切 2003年6月18日（水）
申込方法
受講者一名につき一枚の(�ｳ)官製ハガキまたは(�ｴ)FAXないしは(�ｵ)電子メールを使用して次の項目を記入し、上記の申込先へお申し込み下さい。
（1） 「第35回表面科学基礎講座申込」
（2） 氏 名（ふりがなをつけて下さい。）
（3） 勤務先 所属
（4） 勤務先所在地（〒付記） TEL／FAX／Ｅ-mail
（5） 自宅住所 （〒付記） TEL／FAX／Ｅ-mail
（6） 連絡先（自宅または勤務先のいずれかを指定）
（7） 申込資格（上記の参加費表の区分、所属学会等を記入）
払込方法
（1）申込のハガキ等が届き次第、振込用紙をお送りします。受講者一名につき必ず一枚の振込用紙をご使用下さい。
（2）振込用紙の半券をもって領収書に替えさせていただきます。また、当日会場でこの半券またはそのコピーをご提示いただいた上で参加証をお渡ししますので大切に保管してご持参下さい。
（3）勝手ながら受講料の払い戻しは行いません。ご都合の悪くなった場合には、代理の方の受講をお願いします。
日 本 表 面 科 学 会
〒113-0033 東京都文京区本郷2-40-13 本郷ｺｰﾎﾟﾚｲｼｮﾝ402
電話 03 (3812) 0266 FAX. 03 (3812) 2897
Ｅ-mail: shomu@sssj.org URL: http://www.sssj.org