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プログラム

日時・会場

受講料

　表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。
　また、表面・界面分析を実際に行う場合に出会うさまざまな問題や疑問に思っている問題を、参加者とともに討論する総合討論の時間を設けています。さらに今年度は、近年、技術進歩の著しい放射光を用いた最新の薄膜・界面分析技術についても講義を新設いたしました。
　今年度の第２回目（秋季）の基礎講座を下記のプログラムにて関西地区で開催します。第１回目に参加できなかった方々を含め、多数の参加をお待ちしております。

月　　日	時　　間	講　　義　　題　　目	講　　　師	pdfダウンロード
10月3日（水）	9:30〜10:20	表面・界面分析概論	副島　啓義（島津総研）
	10:30〜11:50	赤外分光法、ラマン分光法	吉川　正信（東レリサーチ）
	12:50〜13:40	薄膜X線回折法	屋代　恒（リガク）
	13:50〜15:10	走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM／EPMA）	林　広司（島津総合分析試験センター）
	15:20〜16:40	走査プローブ顕微鏡の基礎と応用	森田　清三（大阪大）
	16:50〜17:20	総　合　討　論	各　講　師
10月4日（木）	9:00〜10:20	表面分析装置の基礎、オージェ電子分光法（AES)	大岩　烈（アルバック・ファイ）
	10:30〜11:30	X線光電子分光法（XPS)	薄木　智亮（住金テクノ）
	12:30〜13:50	二次イオン質量分析法（D-SIMS、S-SIMS)	加連　明也（東レリサーチ）
	14：00〜14:50	イオン散乱分析法	梅澤　憲司（大阪府立大）
	15:00〜15:50	透過電子顕微鏡(TEM/AEM)	保田　英洋（神戸大）
	16:00〜16:50	放射光を用いた最新の薄膜・界面分析技術	大門　寛（奈良先端大）
	16:50〜17:20	総　合　討　論	各　講　師

pdfファイルにはパスワードがかけられています。参加登録者にはメールにてパスワードをお知らせいたします。

４．受講料

申　込　資　格	受　講　料
表面科学会正会員	25,000円
表面科学会維持会員	20,000円
表面科学会賛助会員	25,000円
表面科学会学生会員	5,000円
協賛学協会会員	35,000円
学生（非会員）	10,000円
その他	40,000円

(テキスト代，消費税を含む）

基礎講座に続き１０月５日（金）に銀杏会館で 「第１０回実用表面分析セミナ−」が開催されます。

第44回表面科学基礎講座受講者は実用表面分析セミナーにも無料で参加できますので、奮ってご参加下さい。

５．申込締切　　平成１９年９月１９日（水）→９月２６日（水）まで受付ます

６．申込方法　　ホームページからお申し込み下さい。（お申し込みはここをクリック＊申込フォームへ＊）

　　　　　　　　　　　（尚、電子メール、FAXまたはハガキでのお申し込みも可能です。その場合、
　　　　　　　　　　　　以下の情報をご記入の上、事務局宛にお申し込み下さい。）
　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　（１）　　「第４４回表面科学基礎講座申込」
　　　　　　　　（２）　　氏　　名（ふりがなをつけて下さい。）
　　　　　　　　（３）　　勤務先　　　　　所属
　　　　　　　　（４）　　勤務先所在地（〒付記）　TEL／FAX／Ｅ-mail
　　　　　　　　（５）　　自宅住所　　　（〒付記）　TEL／FAX／Ｅ-mail
　　　　　　　　（６）　　連絡先（自宅または勤務先のいずれかを指定）
　　　　　　　　（７）　　申込資格（上記の参加費表の区分、所属学会等を記入）

７．払込方法

　(１)申込を受け付け次第、振込用紙をお送りします。
　　　受講者１名につき必ず一枚の振込用紙をご使用下さい。
　(２)振込用紙の半券をもって領収書に替えさせていただきます。
　(３)勝手ながら受講料の払い戻しは行いません。
　　　ご都合の悪くなった場合には、代理の方の受講をお願いします。

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