日本表面科学会　会員各位


日本表面科学会主催(2007年秋季)
「第44回　表面科学基礎講座」のご案内

当学会では例年、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として
「表面科学基礎講座」を開催し、ご好評を頂いております。

この度も第44回表面科学基礎講座（10月3日〜4日）を開催することになりました。

開催に当たり、貴職場および関係の方々やお知り合いの方々に本基礎講座への
参加をご勧誘いただきたく、ご案内させて頂きます。

なお、参加申込は9月26日（水）まで受け付けます。

お忙しい中とは存じますが、何卒よろしくお願い申し上げます。
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（プログラム）
10月3日（水）
 　 9:30〜10:20　表面・界面分析概論　　　　　　　　　　副島啓義（島津総研）
　10:30〜11:50　赤外分光法、ラマン分光法　　　　　　　吉川正信（東レリサーチ）
　12:50〜13:40　薄膜Ｘ線回折法　　　　　　　　　　　　　屋代　恒（リガク）
　13:50〜15:10　走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　林　広司（島津）
　15:20〜16:40　走査プローブ顕微鏡の基礎と応用　　　森田清三（大阪大）　　　　　　　　　
　16:50〜17:20　総合討論　　　　　　　　　　　　　　　　　各講師
10月4日（木）
　 9:00〜 10:20  表面分析装置の基礎、オージェ電子分光法（AES）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　大岩　烈（アルバック・ファイ）
　10:30〜11:30　Ｘ線光電子分光法（XPS）　　　　　　　　薄木智亮（住金テクノ）

　12:30〜13:50　二次イオン質量分析法（D-SIMS、S-SIMS）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　加連明也（東レリサーチ）
　14:00〜14:50　イオン散乱分析法　　　　　　　　　　　　梅澤憲司（大阪府立大）　　　　　　　
　15:00〜15:50　透過電子顕微鏡（TEM/AEM）　　　　　保田英洋（神戸大）
　16:00〜16:50　放射光を用いた最新の薄膜・界面分析技術
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　大門　寛（奈良先端大）
　16:50〜17:20　総合討論　　　　　　　　　　　　　　　　　各講師
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詳細はURL（http://www.sssj.org/KisoKouza/kiso44.html）をご参照ください。
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　敬具

日 本 表 面 科 学 会
企画委員会・委員長
中村　友二