「光・荷電粒子検出用高感度・高速二次元検出器の現状と将来」
ワークショップのご案内

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　大阪電気通信大学
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　エレクトロニクス基礎研究所

　このたび本学のエレクトロニクス基礎研究所では種々の計測機器にとって非常
に重要な二次元検出器に関するワークショップを下記のように開催することにな
りました。光の計測ならびに電子顕微鏡の性能向上に欠かせない荷電ビームの高
速・高感度二次元検出器の開発は急務であり種々の開発が行われています。要素
技術として大変重要です。今回はこのような検出器開発の現状とその将来を議論
するためにワークショップを計画いたしました。
　ぜひご出席いただきますようにお願いいたします。

　　　　　　　　　　　　　記

１．日時：２００８年３月１８日（火）午後１時―午後4時50分
２．場所：大阪電気通信大学　Ｍ号館９階会議室
３．プログラム
（１）安江　常夫（大阪電通大）                 13:00-13:30
　　　　　「表面電子顕微鏡の二次元検出系の問題点」
（２）江藤　剛治（近畿大学）                   13:30-14:30
　　　　　「超高速・超高感度二次元撮像素子（CCD）」

　　　休憩　２０分

　　　　（３）木村　吉秀（大阪大学）                   14:50-15:50
　　　　　「CCDへの直接電子入射によるTEM画像検出」
（４）太田　淳（奈良先端科学技術大学院大学）   15:50-16:50
　　　　　「CMOSイメージセンサの現状と課題」

アクセスなど詳細は
http://www.osakac.ac.jp/feri/information20080318.html
をご覧ください。