日本表面科学会　会員各位


日本表面科学会主催(2008年春季)
「第45回　表面科学基礎講座」のご案内

拝啓　薫風の候、益々ご清栄のことと存じます。
さて当学会では例年、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として
「表面科学基礎講座」を開催し、ご好評を頂いております。

この度も第45回表面科学基礎講座（7月2日〜4日）を開催することになりました。

開催に当たり、貴職場および関係の方々やお知り合いの方々に本基礎講座への
参加をご勧誘いただきたく、ご案内させて頂きます。

参加申込締切は6月18日（水）です。

お忙しい中とは存じますが、何卒よろしくお願い申し上げます。
----------------------------------------------------------------
（プログラム）
7月2日（水）
 　 9:30〜10:50　表面・界面分析概論　　　　　　　　　　 野副尚一（アルバック・ファイ）
　11:00〜12:00　走査プローブ顕微鏡：STM　　　　　　　重川秀実（筑波大）
　13:00〜14:00　走査プローブ顕微鏡：AFM　　　　　　　藤井政俊（神戸大）
　14:10〜15:20　透過電子顕微鏡（TEM/AEM） 　　 　　保田英洋（神戸大）
　15:30〜16:40　走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　林　広司（島津）
　16:40〜17:00　総合討論　　　　　　　　　　　　　　　　　 各講師
7月3日（木）
　 9:10〜 10:00  試料作成の基礎：イオンビームを用いた新しい方法
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　小倉一道（日本電子）
　10:00〜11:20　電子線回折法（RHEED/LEED）　　　　　堀尾吉巳（大同工大）
　11:30〜12:30　Ｘ線構造解析法　　　　　　　　　　　　　　稲葉克彦（リガク）
　13:30〜14:50　赤外分光法、ラマン分光法　　　　　　　北島正弘（防衛大）　　　　　　　
　15:00〜16:20　イオン散乱分光法　　　　　　　　　　 　　笹川　薫（コベルコ科研）
　16:20〜16:50　総合討論　　　　　　　　　　　　　　　　　　各講師
7月4日（金）
　  9:10〜 9:50　測定データ取り扱いの基礎　　　　　　　 太田英二（慶応大）　
　10:00〜11:30　オージェ電子分光法（AES）　　　　　　　 大岩　烈（アルバック・ファイ）
　12:40〜14:00　Ｘ線光電子分光法（XPS）　　　　　　　　 林　泰夫（旭硝子）
　14:10〜15:10　二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS）片岡祐治（富士通研）
　15:20〜16:20　二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS）加連明也（東レ）
　16:20〜16:50　総合討論　　　　　　　　　　　　　　　　　　各講師
-----------------------------------------------------------------
詳細はURL（http://www.sssj.org/KisoKouza/kiso45.html）をご参照ください。
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　敬具

日 本 表 面 科 学 会
企画委員会・委員長
中村　友二