日本表面科学会　会員各位

日本表面科学会関西支部主催
「実用表面分析セミナー２００８」のご案内

拝啓　薫風の候、益々ご清栄のことと存じます。

　今年度も「表面科学基礎講座」と連続した日程で、表面分析の実務者や
より進んだ表面分析を模索しておられる方を対象として「実用表面分析セミ
ナー２００８」を、下記の要領で開催する運びとなりました。
　分析機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を
併設して、表面分析の解析技術の向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、
各種材料を分析する場合に特有のノウハウ・ヒントになる内容をたくさん盛り
込んでおります。参加聴講費は無料ですので、貴職場および関係の方々や
お知り合いの方々に「基礎講座」とともに本セミナーにも参加下さいますよう
ご勧誘いただきたく、ご案内させて頂きます。

　多数の皆様の参加をお待ちしております。
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　「実用表面分析セミナー２００８」
http://www.sssj.org/Kansai/kansai_jitsuyou11.html

日時: 2008年10月3日（金）　10:00〜17:20
場所: 神戸大学 百年記念館六甲ホール
参加費: 無料

講演プログラム:
10:00   ナノインデンテーション法による微小領域の機械特性評価
　　　　  　　　　　　　　　　　　　　　　(コベルコ科研)加藤隆明
10:20   Ｘ線回折・散乱による薄膜材料の評価
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(リガク)屋代　恒
10:40   ＲＢＳ/ＨＦＳ/ＮＲＡ/ＰＩＸＥ法による薄膜の高精度組成分析
　　　　　 　　　　　　　　　　　(東レリサーチセンター)齋藤正裕
11:05   ＦＥ−ＥＰＭＡを用いた薄膜の高分解能分析技術　　　　
　　　　　　　　　　　　　　(日本板硝子テクノリサーチ)高尾亮治
11:25   ＲＦ−ＧＤＯＥＳにおける各種試料の最新の分析手法
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(理学電機工業)山下　昇
11:45   ＴＯＦ−ＳＩＭＳを用いた各種材料の分析　
　　　　　　　　　　　　　         (日東分析センター）飯田貴之
13:10   低エネルギーイオン散乱分光装置の紹介とＴＯＦ−ＳＩＳＭに於ける新技術　

　　　　　　　　　　　　　　(日立ハイテクトレーディング)藤田幸市
13:30   ＥＡＧにおけるＰＣＯＲ−ＳＩＭＳを用いた深さ方向濃度評価
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　(ナノサイエンス）大渕真澄
13:50   ＣＡＭＥＣＡのＳＩＭＳとＡtomＰrobeによる半導体材料の最新分析例
　　　　　　　　　　　　　　　(カメカインスツルメンツ)石川真起志
14:15   ＳＰＭ観察のためのサンプリング　　　　　      　　
　　　　　　　　　　　　　　　　(島津総合分析試験センター）小暮亮雅
14:35   レーザスキャン法を使った広領域のラマンイメージングについて
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　        (堀場製作所)中田　靖
14:55   多機能走査型�]線光電子分光分析装置ＰＨＩ5000ＶersaＰrobeの機能と分析事例
　　　　　　(アルバック・ファイ)眞田則明、間宮一敏、鈴木峰晴
15:20   表面分析による、水が液浸露光レジストに与える影響調査
　　　　　　　　　　　　　　　    　　（住化分析センター）寺谷　武
15:40   ＵＰＳを用いた電子材料の物性値評価技術
　　　　　　　　　　　　　　　   　　　   （日産アーク）佐藤　誓
16:00   密着性評価手法（ｍ−ＥＬＴ、４点曲げetc.）の紹介
　　　　　　　　　　　　　　           (東芝ナノアナリシス）佐藤佳子
16:20〜17:20　　ポスターセッション　−分析機器企業展示−
（上記企業及び日本電子、エスアイアイ・ナノテクノロジー、カネカテク ノリサーチ）


テキスト:　
第46回表面科学基礎講座受講者及び日本表面科学会会員には無料配布
その他一般の方で希望される方には実費で頒布（2000円、学生1000円）

申込（問い合わせ）先:
　神戸大学　研究基盤センター機器分析部門　藤居
　E-mail: fujiiyos@kobe-u.ac.jp
　FAX&FAX: 078-803-6116
ホームページ（http://www.sssj.org/Kansai/kansai_jitsuyou11.html）
からのＯＮＬＩＮＥ申込みが可能です。