公益社団法人 日本表面科学会

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第57回 表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」 (2014年 大阪)

主催

 公益社団法人 日本表面科学会

開催日

2014年6月4日(水)〜5日(木)

締切日

2014年06月04日

会場

大阪大学コンベンションセンター

http://55099zzwd.coop.osaka-u.ac.jp/convention/map.html
大阪府吹田市山田丘1-1

 

プログラム

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、内容の理解をたすけるために、各講演で演習を行う予定にしております。各講演の内容など企画の詳細につきましては、ホームページをご覧下さい。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。       

月日 時間 講義題目 講師 資料
6月4日(水) 9:20〜
10:40
表面・界面分析概論、真空技術基礎 大門 寛(奈良先端大)
10:50〜
12:00
走査プローブ顕微鏡(SPM) 菅原康弘(大阪大)
12:00〜
13:00
   (昼食)     
放射光を利用した表面分析相談(パネル) 吉井賢資(原子力機構)
13:00〜
14:10
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA) 林 広司(島津製作所)
14:20〜
15:30
透過電子顕微鏡(TEM, STEM) 保田英洋(大阪大)
15:40〜
16:50
イオン散乱分光法 中嶋 薫(京都大)
6月5日(木) 9:30〜
10:40
二次イオン質量分析法(D-SIMS/S-SIMS) 森田弘洋(パナソニック)
10:50〜
12:00
表面における赤外分光法、ラマン分光法 村木直樹(東レリサーチセンター)
12:00〜
13:00
   (昼食)     
13:00〜
14:10
オージェ電子分光(AES) 池尾信行(日本電子)
14:20〜
15:30
X線光電子分光法(XPS) 中村 誠(富士通研)
15:40〜
16:50
表面回折手法(RHEED/LEED) 堀尾吉巳(大同大)
放射光利用分析の相談 6/4(水)昼休み
放射光実験施設紹介と放射光利用分析に対する相談にお答えします。(吉井賢資(原子力機構))

プログラムのダウンロードはこちらから 

参加定員

100名(定員に達し次第締め切ります)

費用

表面科学会正会員:20,000円
表面科学会維持会員:20,000円
表面科学会賛助会員:25,000円
協賛学協会会員:30,000円
表面科学会学生会員:3,000円
学生(非会員):5,000円
その他:35,000円 (テキスト代、消費税を含む)

申込方法

終了しました

協賛

日本物理学会,応用物理学会,日本分析化学会,電気化学会,表面技術協会,電気学会,日本真空学会, 日本材料科学会,日本材料学会,電子情報通信学会,日本分光学会,日本金属学会,粉体粉末冶金協会,高分子学会, 日本放射光学会,日本質量分析学会,日本機械学会,軽金属学会,化学工学会,日本セラミックス協会,粉体工学会, 日本顕微鏡学会,日本トライボロジー学会,日本油化学会,関西分析研究会,近畿化学協会,X線分析研究懇談会, 日本分析機器工業会,日本真空工業会,兵庫工業会,応用物理学会関西支部,日本真空学会関西支部

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