公益社団法人 日本表面科学会

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実用顕微評価技術セミナー2014

主催

公益社団法人 日本表面科学会

開催日

2014年6月6日(金) 10:00〜17:30

締切日

2014年06月06日

会場

東京大学 小柴ホール(東大本郷キャンパス・理学部1号館内)

本郷三丁目駅(地下鉄丸の内線)徒歩8分

本郷三丁目駅(地下鉄大江戸線)徒歩6分

湯島駅又は根津駅(地下鉄千代田線)徒歩8分

東大前駅(地下鉄南北線)徒歩1分

春日駅(地下鉄三田線)徒歩10分

http://www.u-tokyo.ac.jp/campusmap/cam01_00_25_j.html

プログラム

日本表面科学会では、ナノ材料・デバイスの評価技術として重要な電子顕微鏡・走査プローブ顕微鏡を軸に、関連する新しい顕微評価技術の展開と促進を図り産業界に貢献するため、昨年より実用顕微評価技術セミナーをスタートさせました。本セミナーでは機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、各種材料・デバイスの顕微評価・解析の向上に役立つ最新技術やノウハウを紹介し、情報交換の場を提供いたします。昨年は約20社の企業出展のご協力のもと、約140名のご来場者の間で活発な交流が行われました。今回も広く多くの方に参加いただくよう参加費を無料といたします。多数の皆様のご来場をお待ちしております。

実用顕微評価技術セミナー2014 プログラム(ショートプレゼンテーション、特別講演)

時間 会社名 発表タイトル 発表者(敬称略)
10:00- 開会の挨拶
10:10-10:20 (株)日立ハイテクノロジーズ 最新型FE-SEMによる極表面(nmオーダー)評価事例の御紹介 立花 繁明
10:20-10:30 (株)日立ハイテクサイエンス 収束イオンビーム装置(FIB/FIB-SEM)による三次元解析事例の紹介 中谷 郁子
10:30-10:40 (株)東陽テクニカ SEMにおける二次電子(SE)と反射電子(BSE)の信号分離 橋本 拓
10:40-10:50 日本電子(株) 表面解析の為の試料断面作製装置 CrossSectionPolisher 小倉 一道
10:50-11:00 (株)コベルコ科研 球面収差補正STEMを用いた機能性材料の原子分解能解析 石丸 雅大
11:00-11:10 (独)物質・材料研究機構 走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるナノスケール観察・加工とその共用 大西 桂子
11:10-11:20 アルバック・ファイ(株) 最新TOF-SIMSによるナノ・イメージング分析 眞田 則明
11:20-11:30 東芝ナノアナリシス(株) 3次元アトムプローブを用いたLED解析 内田 博
11:30-11:40 アメテック(株) 3次元アトムプローブLEAP4000Xのご紹介 石川 真起志
11:40-13:00 昼食/ポスターセッション・展示
13:00-13:50 特別講演 「走査プローブ顕微鏡の現在、過去、未来」 長谷川 修司 先生(東大)
13:50-14:00 (株)島津製作所 高分解能SPM(HR-SPM)による最新の顕微評価技術 粉川良平
14:00-14:10 (株)アドバンストアルゴリズムシステムズ SPMシミュレータのご紹介 〜DFTB法に基づいたシミュレーション計算〜 小方 亨
14:10-14:20 (株)アドバンストアルゴリズムシステムズ 試料-探針間の粘弾性接触を考慮した液中AFMシミュレーション 吾妻 広夫
14:20-14:30 (株)テックサイエンス ナノテク教育用コンパクト一体型SPMのご案内 三塚 公子
14:30-14:40 日本カンタム・デザイン(株) “No Scanning”測定が可能にする新しい表面形状解析
-濡れ、乾燥などの表面形状変化やMEMSなどの3Dその場観察/解析-
片倉 大輔
14:40-:1450 日本カンタム・デザイン(株) “分光測定+AFM”の融合から生まれる微細局所の多角分析と高分解能解析 片倉 大輔
14:50-15:50 休憩/ポスターセッション・展示
15:50-16:00 オミクロン ナノテクノロジー ジャパン(株) 新商品Fermi SPMの紹介 富塚 仁
16:00-16:10 (株)ユニソク ユニソクの新技術のご紹介 小澤 太健展
16:10-16:20 レニショー(株) 最速2D/3Dラマンイメージングのご紹介 三澤 真弓
16:20-16:30 WITec (株) 「AFM/SEM+ラマン」という提案〜表面形状と化学特性から拡がる試料評価 中本 圭一
16:30-16:40 (株)日本サーマル・コンサルティング 100ナノメーター以下分解能で赤外分光分析を実現するAFM-IR測定法 浦山 憲雄
16:40-17:10 ポスターセッション・展示

*上記プログラムは、予告なく変更となる場合があります。PDF版はこちら

費用

無料

*会員にはテキスト代も無料。非会員の方には有償(一般:2000円、学生:1000円)で頒布します。

申込方法

終了しました

協賛

日本物理学会、日本分析化学会、日本分光学会、日本質量分析学会、高分子学会、日本金属学会、日本顕微鏡学会、電気化学会、日本真空学会、日本材料科学会、表面技術協会、日本分析機器工業会、日本放射光学会、日本セラミックス協会、日本鉄鋼協会、軽金属学会、化学工学会、日本真空工業会、近畿化学協会、触媒学会 (以上、依頼中を含む)

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