公益社団法人 日本表面科学会

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[ml_047] 【第 64 回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」】のご案内

発信者:河野禎市郎(旭化成、日本表面科学会企画委員長)


(公社)日本表面科学会 主催(2017年 大阪)
第64回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」

 表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研
究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心
者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具
体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。
 昨年から開講した「界面分析としての電気化学測定基礎」に加えて、新たに「DLTS
(Deep Level Transient Spectroscopy)法を中心とした電気計測による界面評価」を
新設講座として加えることで、より広い視点からの理解を深めます。表面科学基礎講
座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

日  時:2017年10月17日(火)〜18日(水)
会  場:大阪大学 豊中キャンパス
     Σホールセミナー室(基礎工学国際棟)
申込締切:2017年10月11日(水)
申込方法:URL(http://www.sssj.org/jpn/activities/04/detail.php?eid=00015
     よりお申し込みください。

プログラム
10月18日(火)
9:15 〜9:20 開会あいさつ
9:20 〜10:50 表面・界面分析概論、真空技術基礎  大門 寛(奈良先端大)
11:00 〜12:20 走査プローブ顕微鏡(SPM)    菅原 康弘(大阪大)
12:20 〜13:20 (昼食)放射光を利用した表面分析相談(パネル)
                     吉井 賢資(日本原子力研究開発機構)
13:20 〜14:40 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/ EPMA)
                          林 広司(島津製作所)
14:50 〜16:10 イオンプローブ基礎       中嶋 薫(京都大)
16:20 〜17:40 二次イオン質量分析法(S-SIMS)   竹野 文人(パナソニック)
10月19日(水)
9:30 〜11:00 透過電子顕微鏡(TEM,STEM,EDS,EELS)  保田 英洋(大阪大)
11:10 〜12:20 X線光電子分光法(XPS)       中村 誠(富士通研)
12:20 〜13:20 (昼食)
13:20 〜14:40 赤外分光法、ラマン分光法  松田 景子(東レリサーチセンター)
14:50 〜16:10 界面分析としての電気化学測定基礎  野口 秀典(物材機構)
16:20 〜17:40 DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy)法を中心とした
  電気計測による界面評価     岡田 廣(セラミックフォーム)
17:40〜 修了証書授与

※放射光利用分析の相談  10/18(火)昼休み
 放射光実験施設紹介と放射光利用分析に対する相談にお答えします。 
                   (吉井 賢資(日本原子力研究開発機構))
※第7回もしくは第8回の『社会人のための表面科学ベーシック講座』受講者は割引
制度を適用します。
※詳細はURL(http://www.sssj.org/)をご参照ください。

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