日本表面科学会主催 (2001年春季)

第31回表面科学基礎講座
表面・界面分析の基礎と応用

  協 賛 日本化学会, 日本物理学会, 応用物理学会,日本トライボロジー学会,日本金属学会,
 (交渉中) 電子情報通信学会, 日本電子顕微鏡学会, 電気化学会, 表面技術協会, 粉体工学会,日本材料学会, 電気学会, 日本材料科学会, 日本機械学会, 日本セラミックス協会,日本真空協会,高分子学会,日本油化学会,日本分析化学会,軽金属学会,化学工学会,日本質量分析学会,触媒学会,粉体粉末冶金協会,日本分光学会


表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、表面・界面分析を実際に行う場合に出会うさまざまな問題や疑問に思っている問題を参加者とともに討論する総合討論の時間を設けました。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。


プログラム(第31回 表面科学基礎講座 2001年6月20日〜22日)

月  日

時  間

講 義 科 目

講  師

6月20日(水)

9:30〜10:50

表面・界面概論 一村 信吾(産総研)

11:00〜12:00

走査プローブ顕微鏡(SPM)の基礎 野副 尚一(産総研)

12:00〜13:00

13:00〜14:00

走査プローブ顕微鏡(SPM)の応用 藤井 政俊(都立大院理)

14:10〜15:20

透過電子顕微鏡(TEM/AEM) 板東 義雄(物質・材料研究機構)

15:30〜16:40

走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA) 林  広司(島津)

16:40〜17:00

総合討論

各講師

6月21日(木)

9:30〜10:50

赤外分光法,ラマン分光法 北島 正弘(物質・材料研究機構)

11:00〜12:20

電子線回折法(LEED/RHEED) 堀尾 吉巳(大同工大)

12:20〜13:30

13:30〜1430

X線構造解析法(XRD) 秋本 晃一(名大)

14:40〜16:00

イオン散乱分光法 越川 孝範(大阪電通大)

16:00〜16:30

総合討論

各講師

6月22日(金)

9:30〜10:30

表面分析装置の基礎 境  悠治(日本電子)

10:40 〜12:10

オージェ電子分光法(AES) 大岩  烈(アルバック・ファイ)

12:10〜13:10

13:10〜14:40

X線光電子分光法(XPS) 田沼 繁夫(物質・材料研究機構)

14:50〜16:20

二次イオン質量分析法(SIMS) 工藤 正博(成蹊大工)

16:20〜16:50

総合討論

各講師

                  

1.日  時 2001年6月20日(水)〜22日(金)

2.会  場 総評会館2F 東京都千代田区神田駿河台3-2 (JR「御茶ノ水」駅下車、または地下鉄千代田線「新御茶ノ水」駅下車B3出口前)(地図参照)
       TEL 03-3253-1771       

3.参加定員 200名(定員に達し次第〆切ります)

4.受講料

申し込み資格

大学・国公立研究所

民 間 企 業
表面科学会正会員

25,000

30,000
表面科学会維持会員

−−

25,000
表面科学会賛助会員

−−

30,000
表面科学会学生会員

 5,000

−−
協賛学協会会員

35,000

40,000
学生(非会員)

10,000

−−
その他

40,000

45,000
                                     (テキスト代、消費税含む)